| Titel | Art | ISBN-13 | Erschei- nungsjahr | andere Autoren |
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| Beam Injection Assessment of Defects in Semiconductors | Taschenbuch | 978-3-908450-39-9 | 1998 | M Kittler · A Endrös · W Schröter |
| Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials | Gebunden | 978-3-642-02416-0 | 2010 | Wilhelm Warta · Martin Langenkamp |
| Lock-in Thermography: Basics and Use for Functional Diagnostics of Electronic Components | Taschenbuch | 978-3-642-07785-2 | 2010 | |
| Lock-in Thermography: Basics and Use for Functional Diagnostics of Electronic Components | Gebunden | 978-3-540-43439-9 | 2003 | M. Langenkamp |
Kai O Breitenstein · O Burton · Ole Breitenstein · Oliver Breitenstein · Otwin Breitenstein