| Titel | Art | ISBN-13 (ISBN-10) | Erschei- nungsjahr | andere Autoren |
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| Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials: Scanning Probe Microscopy Approach | Taschenbuch | 978-3-642-05844-8 (3-642-05844-2) | 2010 | |
| Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials: Scanning Probe Microscopy Approach | Gebunden | 978-3-540-20662-0 (3-540-20662-0) | 2004 | A. Gruverman |
| Wafer Bonding: Applications and Technology | " | 978-3-540-21049-8 (3-540-21049-0) | 2004 | U. Gösele |