| Titel | ISBN-13 (ISBN-10) | Erschei- nungsjahr | andere Autoren |
|---|---|---|---|
| Verhandlungen: Physikalisch-technischer Teil | 978-3-662-01696-1 (3-662-01696-6) | 1960 | International Conference on Electron Microscopy · Wolfgang Bargmann · Heinz Niehrs · Ernst Ruska |
| Vth International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis / V. Internationaler Kongreß für Röntgenoptik und Mikroanalyse / Ve Congrès International ... 1968 | 978-3-662-12110-8 (3-662-12110-7) | 2013 | K.H. Gaukler |
| Vth International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis / V. Internationaler Kongreß für Röntgenoptik und Mikroanalyse / Ve Congrès International sur l'Optique des Rayons X et la Microanalyse | 978-3-662-22845-6 (3-662-22845-9) | 1969 | |