Titel | Art | ISBN-13 (ISBN-10) | Erscheinungsjahr |
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Atomic Force Microscopy | Gebunden | 978-3-030-13653-6 (3-030-13653-1) | 2019 |
Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy | Taschenbuch | 978-3-662-50557-1 (3-662-50557-6) | 2016 |
Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy | Gebunden | 978-3-662-45239-4 (3-662-45239-1) | 2015 |